ウエハ外観検査中の検査不良回避

半導体 光軸調整
公開日:2026年06月01日
ウエハ外観検査中の検査不良回避

検査時に撮像ポイントでウエハの反りや浮きがあると、カメラフォーカスが合わず画像がボケてしまい、検査不良となるケースがあります。
Smart LACでウエハの反りや浮きを測定し、カメラフォーカスを最適化できる事例です。

従来の問題点 変位計を使用してウエハの反り・浮きを測定する場合、撮像しているポイントとズレた位置での測定となり、フォーカスの最適化が困難でした。
解決提案 Smart LACなら、撮像ポイントと同じポイントで測定でき、カメラフォーカスを最適化できます。

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