お役立ちコラム

変位計で傾きを測定する場合、複数箇所の高さを測定し、それら高さから傾きを算出するが一般的です。ただ、CMOSイメージセンサなどは、CMOS本体の上にガラスカバーがあるため、変位計のレーザ光線を当てると表面と裏面で光が反射され、CMOSまでの距離と共にカバーガラスまでの距離も同時に計測結果として出力されます。そのため、どれがCMOSまでの距離かが判らなくなることがあります。
今回は、CMOSセンサの変位測定を例にとり、ターゲット値を探り出すテクニックを解説します。

物の外寸や厚みを測るとき、真っ先にノギスやマイクロメータ計測器に手が伸びます。筆者も、エンジニアの業務のみならず、子供の頃から慣れ親しんだノギスが自宅の机上にいつも置いてあり、日常でもちょっとした物の長さや厚みを精密に測る際には手放せません。これら安価で便利な精密測定器具も、少し見直してみると、意外と盲目的に「精密！正確！」と使用していることが多々あることに気が付きます。
今回は、「厚みを測る」観点から、それらアナログ計測器の短所のお話と、それら短所を克服するためにレーザ変位計を使用した厚み測定方法についてのお話を進めていきます。