お役立ちコラム

レーザ変位計でワークを測定する場合、材質や形状、表面構造の違い、または測定環境により、測定の再現性が変化します。これは測定精度に影響し、結果として製品の品質確保に悪影響を及ぼすことがあります。
今回のコラムでは、ワークの状態や測定の環境によりレーザ変位計での計測値が変化する可能性を解説いたします。

変位計で傾きを測定する場合、複数箇所の高さを測定し、それら高さから傾きを算出するが一般的です。ただ、CMOSイメージセンサなどは、CMOS本体の上にガラスカバーがあるため、変位計のレーザ光線を当てると表面と裏面で光が反射され、CMOSまでの距離と共にカバーガラスまでの距離も同時に計測結果として出力されます。そのため、どれがCMOSまでの距離かが判らなくなることがあります。
今回は、CMOSセンサの変位測定を例にとり、ターゲット値を探り出すテクニックを解説します。